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异常情况处理流程.docx


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文档列表 文档介绍
. .
- 优选
异常情况处理流程
Rs偏大
将Rs偏大的电池片取出在正常线重新测试,检查是否为测试偏差导致的Rs偏大;
测试Rs偏大的电池片的栅线高宽,确认是否为印刷质量〔只指印刷状态〕导致;
测试Rs偏大的电池片和正常的电池片的方块电阻,看两者之间是否存在差异;
抽取异常线2#烘干炉后10片电池片测试其方块电阻并依据顺序进展跟踪〔走正常线〕;
做穿插比照试验,确认为印刷工序〔包括印刷状态和浆料〕或烧结工序的问题;
拉炉温检测炉温是否在正常范围内,如超出范围可适当调整。
检查印刷零点和网版刮刀
栅线高宽正常
检查方块电阻
Rs偏大
检查是否为测试导致
测试偏差导致
非测试导致
检查探针及夹手
栅线高宽异常
检查栅线印刷高宽
方块电阻异常
通知扩散,并检查未印刷的电池片,防止方块电阻大的电池片再流入丝网印刷
方块电阻正常
做穿插比照试验,确认浆料或烧结问题
浆料问题
更换网版刮刀,并报废浆料
烧结问题
拉炉温,根据炉温曲线调整
--3
. .
- 优选
二、Irev1偏大
1、抽取漏电档电池片30片左右进展外观分类〔如:边缘漏浆、丝印返工、微晶片、隐裂、崩边缺角、过刻、未刻透等〕;
2、外观不是很明显的进展EL扫描,之后进展二次分类〔如PE卡点漏电、扩散卡点漏电、结区点漏电、满片漏电等〕
3、针对边缘漏电取磨砂纸打磨电池边缘,使边缘露出亮亮的硅本色。重新测试观测漏电是否改善,假设有改善通知清洗工艺员进展改善〔除边缘漏浆〕
4、统计两条线数据,检查Irev1是否有差异
5、检查烘干炉托盘和印刷轨道是否清理干净
Irev1偏大
打磨电池片边缘
漏电无改善
漏电好转
统计两条线漏电差异〔同一片源〕
多晶通知清洗工艺员进展调试
有差异
无差异
做比照试验
可适当根据硅片厚度来变换调整烧结,但调整幅度要小,无效果恢复
烧结炉导致的漏电大
印刷导致漏电大
清理烘干炉托盘及印刷轨道,
更换正面电极浆料网版、刮刀及台面感光纸,确认是否沾污导致。如为人为操作导致的沾污,记录并通知其领班
拉炉温确认工艺后,可作适当调节;在产能允许的情况下,也可做烧结炉清洗
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- 优选
三、同一中心做一样批次线线效率差异排查流程
1、检查两条线同一片源差异大小。如数据较稳定,可通过500片以上数据来判断差异。如数据波动较大,必须通过1000片以上的数据来确认差异大小。
2、观察测试线是否测试一样批次不同膜色片,或其他异常片
2、取10片电池片〔单晶取B3-1,多晶取B1-5档〕与标片一样档位,分别在两线测试,检查测试有无差异。
3、统计两条线数据,检测产生效率差异的为哪个电性能参数。根据相关参数来调节。
4、确

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  • 时间2021-12-11
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