实验三触发器的逻辑功能测试.doc

实验三 触发器的逻辑功能测试
一、实验目的
1．验证基本RS触发器、D触发器、J-K触发器的逻辑功能；
2．熟悉常用触发器的使用方法；
3．了解各类触发器间的相互转换方法。
二、实验仪器与器材
1．数字逻辑实验箱 一台
实验三 触发器的逻辑功能测试
一、实验目的
1．验证基本RS触发器、D触发器、J-K触发器的逻辑功能；
2．熟悉常用触发器的使用方法；
3．了解各类触发器间的相互转换方法。
二、实验仪器与器材
1．数字逻辑实验箱 一台
2．信号源 一台
3．集成电路74LS00、74LS74、74LS76及相关门电路
三、预习要求
1．复习第五章各种触发器的逻辑功能及使用方法。
2．熟悉D触发器和JK触发器的引脚排列及特性方程。
四、实验内容与要求
本实验在数字逻辑实验箱上进行，输入数据用逻辑开关设置，用发光二极管LED显示触发器的输出状态。
Q
1．基本RS触发器逻辑功能测试
Q
RD
SD
&
&
图3-1 基本RS触发器
用与非门集成芯片74LS00接成一基本RS触发器，测试当与输入不同状态“1”或“0”时，触发器初始状态Qn分别为“0”或“1”时输出端Qn+1的相应逻辑状态，并记入表3-1，与分别接到逻辑开关，按表3-1置“1”或置“0”，Q端接发光二极管。
表3-1
0
0
0
1
0
1
0
1
1
0
0
1
1
1
0
1
2．D触发器逻辑功能的测试
(1) 直接置位端,复位端的功能测试
选用双D触发器集成芯片74LS74,分别将置“0”端和置“1”端接到数据开关置“1”或置“0”，Q端接发光二极管，分别测试触发器的状态，记入表3-2。X代表触发器状态任意：即初状态Qn为“0”或“1”时，触发器D输入端为“0”或“1”都可。
表3-2
X
X
0
1
X
X
1
0
(2)D触发器逻辑功能的测试
改变输入端D的状态，在CP端加单次脉冲，测试当Qn=0及Qn=1时，Qn+1的逻辑状态，写出其真值表。
3．J-K触发器逻辑功能测试
(1) 直接置位端，复位端的功能测试
选用双J-K触发器集成芯片74LS76，测试当及不同时触发器的逻辑状态，并记入表3-3中。
表3-3
J
K
X
X
X
0
1
X
X
X
1
0
(2)J-K触发器逻辑功能测试
改变J、K的状态，在CP端加单脉冲，测试当Qn=0及Qn=1时，Qn+1的逻辑状态，写出其真值表。
4．触发器逻辑功能转换测试
(1) 将D触发器转换成T触发器
T触发器的逻辑功能