嵌入式系统实验报告.doc

嵌入式系统实验报告
小组成员 指导老师
实验三 键盘及 LED 驱动实验
一、实验目的
1,学习键盘及LED 驱动原理。
2,掌握ZLG7289 芯片的使用方法。
二、实验内容
通过ZLG7289 芯片驱动17 键IDE); //使一、二两位数码管显示
WriteSDIO(3);
}
else
{ //键值小于10不显示十位
WriteSDIO(ZLG7289_CMD_HIDE);//使个位数码管显示
WriteSDIO(1);
}
ZLG7289_DISABLE(); //zlg7289放弃同步串口控制权
}
return 0;
}
/************LED显示改动部分*****************/
实验五 ARM的A/D 接口实验
一、实验目的
1,熟悉ARM 本身自带的八路十位A/D 控制器及相应寄存器。
2,编程实现ARM 系统的A/D 功能。
3,掌握带有A/D 的CPU 编程实现A/D 功能的主要方法。 二、实验内容
学习A/D 接口原理,了解实现A/D 系统对于系统的软件和硬件要求。阅读ARM 芯片文档,掌握ARM 的A/D 相关寄存器的功能,熟悉ARM 系统硬件的A/D 相关接口。利用外部模拟信号编程实现ARM 循环采集全部前4 路通道,并且在超级终端上显示。
三,实验原理

A/D 转换器是模拟信号源和CPU 之间联系的接口,它的任务是将连续变化的模拟信号转换为数字信号,以便计算机和数字系统进行处理、存储、控制和显示。在工业控制和数据采集及许多其他领域中,A/D 转换是不可缺少的。
逐次逼近型的A/D 转换器
逐次逼近型(也称逐位比较式)的A/D 转换器,应用比积分型更为广泛,其原理框图如图5-1 所示,主要由逐次逼近寄存器SAR、D/A 转换器、比较器以及时序和控制逻辑等部分组成。它的实质是逐次把设定的SAR 寄存器中的数字量经
D/A 转换后得到电压Vc 与待转换模拟电压V。进行比较。比较时,先从SAR 的最高位开始,逐次确定各位的数码应是“1”还是“0”,其工作过程如下,转换前,先将SAR 寄存器各位清零。转换开始时,控制逻辑电路先设定SAR 寄存器的最高位为“1”,其余位为“0”,此试探值经D/A 转换成电压Vc,然后将Vc 与模拟输入电压Vx 比较。如果Vx?Vc,说明SAR 最高位的“1”应予保留,如果Vx<Vc,说明SAR 该位应予清零。然后再对SAR 寄存器的次高位置“1”,依上述方法进行D/A 转换和比较。如此重复上述过程,直至确定SAR 寄存器的最低位为止。过程结束后,状态线改变状态,表明已完成一次转换。最后,逐次逼近寄存器SAR 中的内容就是与输入模拟量V 相对应的二进制数字量。显然A/D 转换器的位数N 决定于SAR 的位数和D/A 的位数。图5-1(b)表示四位A/D 转换器的逐次逼近过程。转换结果能否准确逼近模拟信号,主要取决于SAR 和D/A 的位数。位数越多,越能准确逼近模拟量,但转换所需的时间也越长。逐次逼近式的 A/D 转换器的主要特点是,
转换速度较快,在 1—100/μs 以内,分辨率可以达18 位,特别适用于工业控制系统。转换时间固定,不随输入信号的变化而变化。抗干扰能力相对积分型的差。例如,对模拟输入信号采样过程中,若在采样时刻有一个干扰脉冲迭加在模拟信号上,则采样时,包括干扰信号在内,都被采样和转换为数字量,这就会造成较大的误差,所以有必要采取适当的滤波措施。

1,分辨率(Resolution),
分辨率反映 A/D 转换器对输入微小变化响应的能力,通常用数字输出最低位(LSB)所对
应的模拟输入的电平值表示。n 位A/D 能反应1/2n 满量程的模拟输入电平。由于分辨率直接与转换器的位数有关,所以一般也可简单地用数字量的位数来表示分辨率,即n 位二进制数,最低位所具有的权值,就是它的分辨率。值得注意的是,分辨率与精度是两个不同的概念,不要把两者相混淆。即使分辨率很高,也可能由于温度漂移、线性度等原因,而使其精度不够高。
2,精度(Accuracy)
精度有绝对精度(Absolute Accuracy)和相对精度(Relative Accuracy)两种表示方法。
? 绝对误差? 相对误差

ARM S3C440BX 芯片自带一个,路10 位A/D 转换器,该转换器可以通过软件设置为
Sleep 摸式,可以节电减少功率损失,最大转换率为500K,非线性度为正负,位,其转换时
间可以通过下式计算,如果系统时钟为