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接触触发式测量探针的制作方法
接触触发式测量探针的制作方法
本发明描述了一种用于诸如机床等坐标定位设备中的测量探针（2），其包括触针支架（10），所述触针支架（10）可偏转地安装至探针外壳（4）。设置一个或多个用于感测所述触针支架相对于以与在各测量之间或者在刀具更换操作期间
在机器环境中移动测量探针相关。根据本发明在使用期间改变触发条件允许加速度导致的偏转被忽略，所述加速度导致的偏转否则会导致错误触发的发出。特别地，可以获得所述改善的性能，而不用永久地使用高的偏转闕值设定，所述高的偏转闕值设定在测量获取期间也会降低探针敏感度。因此本发明的测量探针可以提供接触触发式探针测量系统，所述系统与现有系统比较能够以改善的自信程度获取物体表面上点的位置的测量值。
[0011]由一个或多个传感器感测的偏转可以通过处理器与许多不同类型的触发条件相比较。有利地，所述触发条件包括偏转闕值，当由一个或多个传感器感测的偏转超出偏转闕值时，发出触发信号。在使用期间，响应于由加速度计测量的加速度，可以便利地改变所述偏转闕值。例如，可以响应于由加速度计测量的加速度提高偏转闕值，并且当这种加速度不再存在时降低偏转闕值。
[0012]如果提供多个传感器，则触发条件可以包括多个偏转闕值并且每个传感器所测量的偏转可以与所述多个偏转闕值的其中一个单独地比较。用于每个传感器的偏转闕值可以是相同的或不同的。便利地，在使用期间，响应于由加速度计测量的加速度，可以改变每个偏转闕值。响应于所测量的加速度，可以以与其它偏转闕值类似或不同的方式改变每个偏转闕值。在这个例子中，当由传感器的其中一个(或子集)感测的偏转超过相关偏转闕值时可以满足触发条件。换言之，可以提供“第一过杆制”触发条件，其中当由一个传感器测量的偏转超出其闕值时发出触发信号。
[0013]替换地，由多个传感器测量的偏转可以被结合起来(例如通过处理器)以提供合成偏转。那么触发条件可以包括合成偏转闕值；当合成偏转超出合成偏转闕值时发出触发信号。由每个传感器测量的偏转可以被结合以便以多种方式提供合成偏转；例如，可以使用校正并求和或平方和技术来结合来自多个传感器的偏转测量。有利地，可以应用在W02006/120403中所描述的技术结合来自多个传感器的偏转信号，上述专利申请的内容以参考的方式被结合在这里。响应于由加速度计所测量的加速度，在使用期间可以改变合成的偏转闕值。
[0014]还应当注意，不需要计算触针偏转的实际值(例如以微米)。必要的是一个或多个 传感器产生一个或多个信号，所述信号关于触针偏转的值改变。例如，传感器可以提供电压 的传感器信号，其与触针偏转的值成比例，或者可以结合许多这种传感器信号以便提供合 成触针偏转电压信号。触发条件可以包括电压闕值形式的偏转闕值；如果传感器信号或合 成信号的电压超过电压闕值，则产生触发信号。在这个例子中，可以响应于所测量的探针 加速度升高或降低电压闕值。
[0015]有利地，触发条件包括偏转闕值以及滤波器延迟，当由一个或多个传感器感测的 偏转连续地超出偏转闕值比滤波器延迟更长的时间时，就发出所述触发信号。可以响应于 由加速度计所测量的加速度在使用期间便利地改变滤波器延迟。如上所述，在使用期间可 以改变偏转闕值。
[0016]测量探针可以包括任何已知类型的加速度计。便利地，所述加速度计包