一种高精度螺旋测微仪的制作方法.docx

一种高精度螺旋测微仪的制作方法
一种高精度螺旋测微仪的制作方法
本发明公开了一种高精度螺旋测微仪，涉及机械设备领域，一种高精度螺旋测微仪，包括固定支架和测微螺杆，所述固定支架上设有测砧，所述测微螺杆上设有螺母套筒、微分筒和棘轮，所述测微一种高精度螺旋测微仪的制作方法
一种高精度螺旋测微仪的制作方法
本发明公开了一种高精度螺旋测微仪，涉及机械设备领域，一种高精度螺旋测微仪，包括固定支架和测微螺杆，所述固定支架上设有测砧，所述测微螺杆上设有螺母套筒、微分筒和棘轮，所述测微螺杆上设有可见光发射装置，所述测砧上设有凹槽，所述可见光发射装置与凹槽在同一水平线上，所述凹槽的宽度为8~10mm，测量实物时，可在实物上划一条线，测微螺杆发射可见光，移动实物使其上线条与可见光以及凹槽在同一水平线上，提高所测尺寸的精度，结构合理，适于推广使用。
【专利说明】一种高精度螺旋测微仪
【技术领域】
[0001]本发明涉及机械设备领域，具体涉及一种高精度螺旋测微仪。
【背景技术】
[0002]随着社会生产的发展，机械行业的快速发展，大量的工业工具被生产、使用，在生产中常会进行测量作业，有长度、宽度、高度、直径测量等等，对于测量来说，准确度是生命，而千分尺无疑是测量小型工件尺寸中准确度最高的一种仪器，，涉及测量工具领域，千分尺的起点都是0，实际操作过程中，由于使用不当，初始状态多少和上述要求不符，即有一个不等于零的读数，零差为负工人往往会犯错，导致测量结果错误，为克服千分尺起点刻度为零带来的读数不便，本发明将千分尺的主尺刻度向左移动一定的距离，将螺旋测微仪的主尺向左边移动1_3_，本刻度方法回归长度等于两坐标之差的本质，可以不再使用零差的概念；可以避免负零差带来的读数不便，但是该千分尺，测量实物时，无法保证实物与测砧和测微螺杆在同一水平线上，不利于测量的进行，测量精度低。
【发明内容】
[0003]本发明的目的是提供一种高精度螺旋测微仪，以解决现有技术中导致的上述多项缺陷。
[0004]本发明所解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现:一种高精度螺旋测微仪，包括固定支架和测微螺杆，所述固定支架上设有测砧，所述测微螺杆上设有螺母套筒、微分筒和棘轮，所述测微螺杆上设有可见光发射装置，所述测砧上设有凹槽，所述可见光发射装置与凹槽在同一水平线上，所述凹槽的宽度为8?10mm。
[0005]优选的，所述固定支架上设有圆槽。
[0006]优选的，所述固定支架上设有支撑底座。
[0007]优选的，所述支撑底座与固定支架为卡接。
[0008]优选的,所述圆槽直径为8?10cm。
[0009]本发明的优点在于:测量实物时，可在实物上划一条线，测微螺杆发射可见光，移动实物使其上线条与可见光以及凹槽在同一水平线上，提高所测尺寸的精度，结构合理，适于推广使用，凹槽可放置划线笔，便于在实物上面划线，制成底座可将千分尺放置于桌面上测量，便于测量不同类型的实物，卡接保证了底座与支架的活动连接，不使用底座时，可将底座从支架上拆卸下来，方便实用。
【专利附图】
【附图说明】
[0010]图1是本发明所述的一种高精度螺旋测微仪的主视图。
[0011]图2是本发明所述的一种