1、X线头影测量内容和意义 2、记存模型
X线头影测量
一、定义
主要是测量x线头颅定位照相所得的影像,对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。
X线头影测量
二、组成
1、头颅定位仪
应通过左右耳塞和眶点指针,使三者构成一与地面平行的恒定平面。
2、X线照相
投照距离不小于150cm.
3、描绘投影图
硫酸纸
X线头影测量分析
Cephalometric analysis
硬组织测量标志点
软组织测量标志点
常用平面
常用角度
常用线距
硬组织测量标志点
颅部蝶鞍点(S)
鼻根点(N)
机械耳点(P)
上颌骨 前鼻棘(ANS)
上齿槽座点(A)
上中切牙点(U1)
下颌骨 下齿槽座点(B)
下中切牙点(L1)
颏前点(Pg)
颏下点(Me)
颏顶点(Gn)
常用平面
眶耳平面(FH)
前颅底平面(SN)
审美平面(EP)
牙合平面
下颌平面(MP)
常用角度
颅底-上齿槽座角(SNA): 上颌对颅底位置关系 82°±1
颅底-下齿槽座角(SNB): 下颌对颅底位置关系 79°±1
上下齿槽座角(ANB): 上下颌位置关系 3° ±1
常用线距
全面高(N-Me)
上面高(N-A)
下面高(A-Me)
上面高/全面高
下面高/全面高
X线头影测量
三、主要的应用
1、研究颅面生长发育
2、牙颌、颅面畸形的诊断分析
3、确定错颌畸形的矫治设计
4、研究矫治过程及矫治后的牙颌、颅面形态、结构变化
5、外科正畸的诊断和矫治设计
6、下颌功能分析
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