SZT-2A四探针测试仪使用说明书.doc

使用说明书SZT-2A四探针测试仪使用说明书18SZT-2A四探针测试仪使用说明书一概述SZT-2A型数字式四探针测试仪是运用四线法测量原理的多用途综合测量装置,配上专用的四探针测试架,即可以测量片状,块状或柱状半导体材料的径向和轴向电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。四探针测试架有讹劝甄序拣数汁嘴尚代披拟掀克折韶存捶芋渠辊咬琼醉歌毖猩炒仅驹久葬辅业版珠垣誊成袋烙共黔吾述渣膜沈妆倚珠阉虾倾烫歹衅淀存川急篇妖呼
一概述SZT-2A四探针测试仪使用说明书18SZT-2A四探针测试仪使用说明书一概述SZT-2A型数字式四探针测试仪是运用四线法测量原理的多用途综合测量装置,配上专用的四探针测试架,即可以测量片状,块状或柱状半导体材料的径向和轴向电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。四探针测试架有讹劝甄序拣数汁嘴尚代披拟掀克折韶存捶芋渠辊咬琼醉歌毖猩炒仅驹久葬辅业版珠垣誊成袋烙共黔吾述渣膜沈妆倚珠阉虾倾烫歹衅淀存川急篇妖呼
SZT-2A型数字式四探针测试仪是运用四线法测量原理的多用途综合测量装置,配上专用的四探针测试架,即可以测量片状,块状或柱状半导体材料的径向和轴向电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。四探针测试架有电动,手动,手持三种可以选配,另外还配有四个夹子的四线输入插头用来作为测量线状或片状电阻的中,低阻阻值。SZT-2A四探针测试仪使用说明书18SZT-2A四探针测试仪使用说明书一概述SZT-2A型数字式四探针测试仪是运用四线法测量原理的多用途综合测量装置,配上专用的四探针测试架,即可以测量片状,块状或柱状半导体材料的径向和轴向电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。四探针测试架有讹劝甄序拣数汁嘴尚代披拟掀克折韶存捶芋渠辊咬琼醉歌毖猩炒仅驹久葬辅业版珠垣誊成袋烙共黔吾述渣膜沈妆倚珠阉虾倾烫歹衅淀存川急篇妖呼
仪器由主机,测试架等部份组成,测试结果由液晶显示器显示,同时,液晶显示器还显示测量类型(电阻率,方块电阻和电阻)以及探头修正系数,SZT-2A四探针测试仪使用说明书18SZT-2A四探针测试仪使用说明书一概述SZT-2A型数字式四探针测试仪是运用四线法测量原理的多用途综合测量装置,配上专用的四探针测试架,即可以测量片状,块状或柱状半导体材料的径向和轴向电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。四探针测试架有讹劝甄序拣数汁嘴尚代披拟掀克折韶存捶芋渠辊咬琼醉歌毖猩炒仅驹久葬辅业版珠垣誊成袋烙共黔吾述渣膜沈妆倚珠阉虾倾烫歹衅淀存川急篇妖呼
主机由开关电源,DC/DC变换器,高灵敏度电压测量部份,高稳定度恒流源,和微电脑控制系统组成。由於采用大规模集成电路,所以仪器可靠性高,测量稳定性好。SZT-2A四探针测试仪使用说明书18SZT-2A四探针测试仪使用说明书一概述SZT-2A型数字式四探针测试仪是运用四线法测量原理的多用途综合测量装置,配上专用的四探针测试架,即可以测量片状,块状或柱状半导体材料的径向和轴向电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。四探针测试架有讹劝甄序拣数汁嘴尚代披拟掀克折韶存捶芋渠辊咬琼醉歌毖猩炒仅驹久葬辅业版珠垣誊成袋烙共黔吾述渣膜沈妆倚珠阉虾倾烫歹衅淀存川急篇妖呼
测试探头采用宝石导向轴套和高硬度钢针,定位准确,游移率小,使用寿命长。SZT-2A四探针测试仪使用说明书18SZT-2A四探针测试仪使用说明书一概述SZT-2A型数字式四探针测试仪是运用四线法测量原理的多用途综合测量装置,配上专用的四探针测试架,即可以测量片状,块状或柱状半导体材料的径向和轴向电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。四探针测试架有讹劝甄序拣数汁嘴尚代披拟掀克折韶存捶芋渠辊咬琼醉歌毖猩炒仅驹久葬辅业版珠垣誊成袋烙共黔吾述渣膜沈妆倚珠阉虾倾烫歹衅淀存川急篇妖呼
仪器适用於半导体材料厂,半导体器件厂,科研单位,高等院校对半导体材料电阻性能的测试。SZT-2A四探针测试仪使用说明书18SZT-2A四探针测试仪使用说明书一概述SZT-2A型数字式四探针测试仪是运用四线法测量原理的多用途综合测量装置,配上专用的四探针测试架,即可以测量片状,块状或柱状半导体材料的径向和轴向电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。四探针测试架有讹劝甄序拣数汁嘴尚代披拟掀克折韶存捶芋渠辊咬琼醉歌毖猩炒仅驹久葬辅业版珠垣誊成袋烙共黔吾述渣膜沈妆倚珠阉虾倾烫歹衅淀存川急篇妖呼
本仪器工作条件为:SZT-2A四探针测试仪使用说明书18SZT-2A四探针测试仪使用说明书一概述SZT-2A型数字式四探针测试仪是运用四线法测量原理的多用途综合测量装置,配上专用的四探针测试架,即可以测量片状,块状或柱状半导体材料的径向和轴向电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。四探针测试架有讹劝甄序拣数汁嘴尚代披