实验五触发器逻辑功能测试三、实验仪器及器件:数字电路实验箱74LS00、74LS74、74LS76芯片各一片四、实验内容:1、用与非门构成SR锁存器,并测试其功能,画出实验电路图并记录测试结果。SR锁存器功能测试结果记录2、测试74LS74双D触发器的逻辑功能(1测试直接置位端(SD’、直接复位端(RD’的作用任取74LS74中的一只D触发器,SD’、RD’、D端接逻辑开关输出插口,CP端接单次脉冲源,Q和Q’端接到逻辑电平显示输入插口。改变SD’和RD’(CP、D处于任意状态,并在SD’=0(RD’=1或RD’=0(SD’=1作用期间任意改变D及CP的状态,观察Q和Q’端的状态,记录结果于下表中。(2测试D触发器的逻辑功能当RD’=SD’=1时,用CP脉冲控制D触发器,将测试结果记录在表2中。CP端接单次脉冲或逻辑开关输出插口。(3将D触发器的Q’端与D端相连,构成翻转功能的T触发器,CP接1Hz信号,观察Q端状态。3、测试74LS76双JK触发器的逻辑功能(1(2测试内容与过程(1(2同74LS74的测试内容类似,仿照进行。(3将JK触发器的J、K端连在一起,构成T触发器。在CP端输入1Hz连续脉冲,观察Q端的变化。五、思考题:,测试触发器的逻辑功能时SD’和RD’应处于什么状态?,在CP=1,D=0的条件下,如何使触发器置“1”?
实验五 触发器逻辑功能测试- 来自淘豆网m.daumloan.com转载请标明出处.
