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NI半导体测试系统

使用半导体测试系统降低测试成本
半导体测试系统(STS)系列产品是一套利用NI测试技术的产品级测试系统，适用于半导体生产测试环境。STS在完全封闭
的测试头里面整合了NI PXI平台、TestStand测试管理软件以及LabVIEW图形化编程工具。它采用“集成到测试头”的设计，
把产品的所有关键测试资源整合在一起，这些测试资源包括系统控制器、直流交流电源、射频仪器、待测设备接口以及分
拣仪器和探头接口。这样的紧凑型设计减小了额外的占地空间，降低了功耗，减轻了传统ATE测试员的维护负担，从而节
约了测试成本。此外，STS采用开放的、模块化的设计，使您可以利用最新的工业标准的PXI模块，获得更多的仪器资源
和更强大的计算能力。
STS T1系统 STS T2系统 STS T4系统
内部集成了1个18槽的PXI机箱。 内部集成多达2个18槽的PXI机箱。 内部集成多达4个18槽PXI机箱。
STS系列由3个不同尺寸的测试系统构成：T1、T2和T4。这个3个测试系统分别集成了1个、2个和4个18槽PXI机箱（4U 19寸
机架式）。所有的测试系统都支持通用接口形式，因此，在产品测试中您可以向上扩展系统，从而精确满足引脚数和测试
点数需求。也可以根据产品特征描述向下扩展系统。基于通用软硬件架构进行扩展的能力，不但可以帮助您优化系统成
本，而且可以简化从生产到特性描述的数据关联，加速您的产品上市过程。
NI半导体测试系统内部架构
NI PXI平台 半导体测试系统软件
PXI机箱和控制器 PXI仪器
Test Management Software:
生产测试单元 测试管理软件：
TestStand TestStand
Code Module Development: