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材料微观分析习题及解答（第一章）
1． X 射线的本质是什么？用于晶体结构分析的 X 射线波长一般为多少？
答： X 射线的本质是电磁波，它同时具有波动性和粒子特性。
用于晶体结构分析的 X 射线波长一般为 ～ 。
2．什么是特征 X 射线谱？物质的特征 X 射线谱取决于什么？
答：反映物质原子序数特征的 X 射线构成的 X 射线谱称为～。
物质的特征 X 射线谱取决于物质的原子能级结构。
3．在 X 射线分析中，为什么要使用滤波片？滤波片的原理是什么？滤波片应如何选择？
答：采用滤波片是希望滤掉两条谱线中的一条，得到“单色”的入射 X 射线。
滤波片的原理是某物质可以强烈吸收 K 波长的入射 X 射线，而对于 K 的 X
射线吸收很少。
滤波片材料是根据靶元素确定的，当靶固定以后，应满足：
当 Z 靶<40 时，则 Z 片 ＝Z 靶－ 1
当 Z 靶≥40 时，则 Z 片＝ Z 靶－ 2
材料微观分析习题及解答（第二章）
1．将下面几个干涉面（属立方晶系）按面间距的大小排列。
（123）、（ 100）、（ 200 ）、（ 311）、（ 121 ）、（210）、（110）、（ 221）、（ 030）、（ 130）
a
答：由 d 计算得：
2 2 2
h k l
晶面 (123) (100) ( 200 ) ( 311 ) ( 121) (210) (110) ( 221) (030) (130)
d(a*) 1
排序 10 1 3 9 5 4 2 6 6 8
即 (100)>(110)>( 200 )>(210)> ( 121)>( 221)=(030) > (130)> ( 311 )>(123)
2 2 2
（注：可以直接用 h +k +l 来比较，更为简单）
2．证实（ 110）、（ 121 ）、（ 312 ）属于 [111] 晶带。
解：由晶带定律： hu kv lw 0
1 1 ( 1) 1 0 1 0；
有： 1 1 （ 2） 1 1 1 0；
（ 3） 1 1 1 2 1 0；
即（ 110 ）、（ 121 ）、（ 312 ）属于 [111]晶带。
3．当 X 射线在原子列上反射时，相邻原子散射线在某个方向上的波程差若不为波长的整数
倍，则此方向上必然不存在反射，为什么？
答：由波的合成原理可知，两相干波的波程差不为波长的整数倍时，必然存在一定的
位相差，其结果就导致了其合成振幅的变化，必然导致 X 射线的强度减弱或等于零，即存
在一定的相消现象，故不发生衍射（即所谓的反射） 。
4．当波长为 λ的 X 射线在晶体上发生衍射时， 相邻两个（ hkl）晶面衍射线的波程差是多少？
相邻两个 HKL 干涉面的波程差又是多少？
答：前者为 nλ，