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XRF操作问题解答
XRF操作问题解答 本文关键词：问题解答，操作，XRF
XRF操作问题解答 本文简介：，为什么记数率改变很大？答：由于
答：环境温度16-30℃，最好有空调。相对温度≦70％，越低越好。
，他们测量结果和SGS的测量结果为什么不一样？










答：X荧光测试设备属于外表测试，对不同物质，外表穿透实力不一样。SGS是湿化学分析法，它是将样品匀称溶解，然后进展测量。假如多测的材质是匀称的样品，两者的测量结果相当，其相差在同等数量级上。假如外表有涂附层，那么两者测量的偏差是比拟大。
“除零错误”？
答：选择工作曲线不正确，准直器放错，测试时间太短，样品太小，记数率偏低都有可能出现“除零错误”，同时，假如工作曲线的数据被破坏，同样会造成“除零错误”：假如操作系统运用在“来宾”帐户下，同样也会出现“除零错误”的。
，为什么？
答：跟样品的材质、大小和厚度有关：同时，探测器或X光管处于有污染物，同样对探测记数率有很大的影响。

负
斜率，为什么？
答：〔1〕标样的
谱
测试不正确，或者含量值输入不正确
〔2〕人为勿参加非标样点，即数据错误。
，有很高的峰谱，而结果确是ND？
答：这种状况是由于其它元素光谱的干扰，其干扰在软件中已经做了校正处理，所以看到的结果是ND的。还有一种状况就是软禁中的标准测试数据有错误，或者被更正。










？
答：〔1〕选择的样品类型与上次测量的类型不一样。
(2)这个样品谱无意中被另外的样品测试时覆盖过了。
，为什么对提示样品太小？
答:这一问题出此时此刻成份分析软件中，在ROHS软件中无此现象，其多是在“一起参数”选项中选择了“限制记数率”项后，在测量时因为以下缘由产生：
〔1〕选错工作曲线
〔2〕样品没有放好或太小
〔3〕选错准直器
，铅的峰会漂移？
答：其不是漂移现象，是视察谱图的错觉，那是因为锡中掺有铋元素，铋在铅峰的旁边而造成的错觉。
？
答：探测头或准直器内可能有杂物遮挡。另外，仪器光路系统故障，或者仪器的设置参数被人为修改。
，更换准直器后，软件会死机，关掉重新翻开又可复原运用？
答：这种现象很少见过，最有可能造成测试软件死机的Windows操作系统故障引起。










？
答：〔1〕保存路径不正确
〔2〕非正常关机
〔3〕运用了特别字符
？
答：〔1〕光谱分析为外表物理分析，SGS采纳化学溶样分析方法，两种测量方法之间的差异。
〔2〕金属标样自身的误差
(3)金属标样外表有镀层
？
答：软件本身设计时候的要求