一种仪表测试箱的制作方法.docx

一种仪表测试箱的制作方法
一种仪表测试箱的制作方法
本发明涉及测试【技术领域】，具体地说是一种仪表测试箱。一种仪表测试箱，包括测试模块，其特征在于：所述的测试模块包括ARM处理器、方波发生器、电流或电压信号发生器、测试选择模块及信号组合号发生器芯片一的DATA in端，电阻十六(R16)、电阻十七、；信号发生器芯片一的Vcc端分别连接26伏直流电源、电容二十四、电容二十八的一端及电容二十五的正极，电容二十五的负极接地；电容二十四的另一端连接信号发生器芯片一的CAP2端；电容二十八的另一端连接信号发生器芯片一的CAPl端；信号发生器芯片一的V out端连接电阻二十的一端，电阻二十的另一端接地；信号发生器芯片一的REF in端连接信号发生器芯片一的REF out端；所述的电容二十五为有极性电容。
[0007]所述的另一电流或电压信号发生器包括信号发生器芯片二、电容、放大器、电阻，信号发生器芯片二的VLL端连接电容三十三的一端，电容三十三的另一端、信号发生器芯片二的CLEAR端及信号发生器芯片二的接地端接地；信号发生器芯片二的RANGE selectl端及RANGE select2端连接电阻二十二的一端及ARM处理器的GP101_28端，信号发生器芯片二的LATCH端分别连接电阻二十三的一端及ARM处理器的SPILCS0端，；ARM处理器的SPILSCLK端连接信号发生器芯片二的CLOCK端，ARM处理器的SPILDO端连接信号发生器芯片二的DATA in端；信号发生器芯片二的Vcc端分别连接电容三十五、电容三十七的一端、电容三十八的正极及26伏直流电源，电容三十八的负极接地；电容三十五、电容三十七的另一端分别连接信号发生器芯片二的CAP2端及CAPl端；信号发生器芯片二的Vout端分别连接电阻八十二的一端及放大器一的反向输入端，电阻八十二的另一端接地，放大器一的正向输入端分别连接电阻三十及电阻三十一的一端，电阻三十的另一端接地，电阻三十一的另一端及放大器一的输出端连接放大器二的正向输入端，放大器二的反向输入端及放大器二的输出端连接电阻二十九的一端；放大器二的正电源连接26伏直流电源，放大器二的负电源连接-；信号发生器芯片二的REF in端连接信号发生器芯片二的REF out端；所述的电容三十八为有极性电容。
[0008]所述的信号组合器包括信号组合器芯片、电阻、放大器，信号组合器芯片的Vdd端连接5伏电压，信号组合器芯片的ADO端连接电阻四的一端，信号组合器芯片的SCL端分别连接电阻二的一端及ARM处理器的12C0_SCL端，信号组合器芯片的SDA端分别连接电阻三的一端及ARM处理器的12C0_SDA端，电阻二、；信号组合器芯片的B端及接地端接地；信号组合器芯片的A端及W端连接电阻八的一端及放大器三的反向输入端，电阻八的另一端及放大器三的输出端连接电阻一的一端，电阻一的另一端分别连接电阻五的一端及放大器四的正向输入端，放大器四的反向输入端分别连接电阻六及电阻九的一端，电阻九的另一端接地。
[0009]所述的测试选择模块包括选择模块芯片、电阻、三极管，ARM处理器的GP102_4端连接电阻二十四的一端，电阻二十