1、X线头影测量内容和意义 2、记存模型X线头影测量一、定义主要是测量x线头颅定位照相所得的影像,对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。X线头影测量二、组成1、头颅定位仪应通过左右耳塞和眶点指针,使三者构成一与地面平行的恒定平面。2、、描绘投影图硫酸纸X线头影测量分析Cephalometricanalysis硬组织测量标志点软组织测量标志点常用平面常用角度常用线距额点(G)鼻小柱点(Cm)鼻下点(Sn)上唇缘点(UL)下唇缘点(LL)软组织颏前点(Pgs)软组织颏下点(Mes)颈点(C)软组织测量标志点常用平面眶耳平面(FH)前颅底平面(SN)审美平面(EP)牙合平面下颌平面(MP)常用角度颅底-上齿槽座角(SNA): 上颌对颅底位置关系82°±1颅底-下齿槽座角(SNB): 下颌对颅底位置关系79°±1上下齿槽座角(ANB): 上下颌位置关系3°±1常用线距全面高(N-Me)上面高(N-A)下面高(A-Me)上面高/全面高下面高/全面高X线头影测量三、主要的应用1、研究颅面生长发育2、牙颌、颅面畸形的诊断分析3、确定错颌畸形的矫治设计4、研究矫治过程及矫治后的牙颌、颅面形态、结构变化5、外科正畸的诊断和矫治设计6、下颌功能分析
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