电子探针分析仪校准规范编制说明.docx

《电子探针显微分析仪校准规范》（征求意见稿）
编制说明
一、任务来源
根据国家市场监督管理总局计量技术规范制修订计划文件（国家市场监督管 理总局司（局）函-计量函【2019】42号）及国家计量技术规范管理信息化系统审 批通过，受中国计》、GB/T21636-2008《微束分析 电子探针显微分析（EPMA）术语》、GB/T 30705-2014《微束分析电子探针显微分析波谱法实验参数测定导则》等。国内法 规仅有检定规程
JJG 901-1995(2005)《电子探针分析仪检定规程》。该检定规程己 实施二三十年，很多技术指标都无法满足电子探针的发展需求。通过制定电子探 针显微分析仪校准规范，可以进一步规范电子探针的生产和使用，实现电子探针 的标准化校准，保证其量值传递的准确可靠。
三、规范起草过程
2020年1月，上海市计量测试技术研究院主持承担了《电子探针显微分析仪 校准规范》的制定任务。规范制定的计划时间为2020年1月至2022年12月。2020 年1月至2020年12月，各单位起草人主要进行了仪器校准方法的调研、计量特 性的确定、标准器/标准物质的选用和测量分析工作。2021年1月至2021年5月 期间起草了校准规范的草稿，同时通过实验验证了规范技术内容的可行性。各单 位主要起草人进行多次讨论，对草稿进行不断地修改和完善，于2021年5月底完 成校准规范的讨论稿。项目组通过各种方式征询了多家计量检定机构、科研机构、 相关仪器制造商、使用单位的宝贵意见，对讨论稿进行了修改和完善，进一步扩 大实验对象的范围，进行了多厂家、多个型号的仪器计量特性实验。起草组于2021 年8月底完成校准规范的征求意见稿，上报给全国新材料与纳米计量技术委员会 秘书处，并由秘书处发给委员和各省市计量技术机构相关专家征求意见。
四、制定规范主要参考的文件和依据
本规范主要依据JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》进行编制， JJF1001-201H通用计量术语及定义》、-2012《测量不确定度评定与表示》、 JJF 1094-2002《测量仪器特性评定》共同构成支撑校准规范制定工作的基础性系列 规范。
本规范为首次制定，主要技术内容和计量特性参考了 JJG 901-1995 (2005)《电 子探针分析仪检定规程》、GB/T 15074-2008《电子探针定量分析方法通则》、GB/T 21636-2008《微束分析电子探针显微分析(EPMA)术语》和GB/T 30705-2014 《微束分析电子探针显微分析波谱法实验参数测定导则》的部分内容。
五、规范的主要内容及主要技术关键规范的主要内容：
1、按照JJF 1071-2010《国家计量校准规范编写规则》的要求制定电子探针显 微分析仪校准规范，在内容和格式上与JJF 1071-2010保持一致。校准规范的具体 内容有范围、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、校准结果的表 达、复校时间间隔等。
2、本规范描述电子探针分析仪的校准方法参考了 GB/T 15074-2008《电子探 针定量分析方法通则》、GB/T 21636-2008《微束分析 电子探针显微分析（EPMA） 术语》和GB/T 30705-2014《微束分析电子探针显微分析波谱法实验参数测定导 则》，并