品质标准书.doc

深圳市安 XXXX 科技有限公司 Shenzhen XXXX touch Panel Technology Co ., Ltd. 品质标准书编号: 制作 XXXX 日期 审核 XXXX 日期 批准日期公司名称( 客户) 客户型号客户确认日期地址: 电话: 传真: 网址: 修改记录版本日期修改原因及内容责任人 A (黑色) 初次发行 XXXX 1. 目的和范围 本标准适用于我司出厂的 CTP ( Sensor 结构) 产品,我司生产的 CTP 产品应符合本标准; 本标准未明确定义的缺陷应与客户协商制定标准; 如果顾客有特殊要求,应双方沟通讨论制定标准。 2. 检查条件 检查时,应在 20~40W 日光灯的照明条件下; 检查时,检查者眼睛与样品表面的距离在 30cm~50cm, θ=45 ° +/-5 °。 3. CTP 产品结构定义以及区域定义 4. 抽样方案以及缺陷等级定义 抽样方案采用 - 2003 ( MIL-STD-105/E )一次正常抽样,一般水平Ⅱ进行。 AQL 定义重缺陷: AQL= (参考“ 5. 检查标准”中的定义) 轻缺陷: AQL= (参考“ 5. 检查标准”中的定义) 项目规格结构 ITO 面阻 IC 外形尺寸可视区单位 mm θ III. A区: 可操作 CTP 区域 IV. B 区:不可操作的外观区域 I. 盖板(Overlay) :钢化玻璃 II. CTP : ITO FILM 5. 检查标准 外形与外观编号缺陷名称及图例判定标准等级 外形尺寸符合图纸要求轻缺陷 盖板 BM 1 针孔以下是盖板针孔标准,如下: 范围允许数量允许间距Φ< MM 不计不计Φ≥ 0. 1MM NG NG 轻缺陷 CTP 圆形缺陷以下是圆形缺陷,标准如下: 范围允许数量允许间距Φ≤ 5MM 不计不计 0. 15MM < Φ≤ 0. 20MM 2 间距 10MM Φ>0. 2MM 不允许不允许备注:圆形缺陷包括气泡,污点,凹凸点,点状刺伤等缺陷轻缺陷 CTP 长形缺陷以下是长形缺陷,标准如下: 范围允许数量允许间距 a≤ 0. 03MM,b < 3MM 不计不计 0. 03MM <a≤0 .05MM, b≤5 2无 a > 不允许不允许备注:长形缺陷包括线状划伤,污线等缺陷轻缺陷 CTP 角破损单位:毫米 XYZ 允许数≤3≤3≤T2 备注:破损则判定为不合格。轻缺陷 CTP 边破损单位:毫米轻缺陷 1 BM = Black Mask. 盖板背面的镀膜层。 XYZ 允许数任意≤ ≤ T/2 不计≤ ≤ ≤T3 备注:破损则判定为不合格。 盖板与 CTP 贴合偏位参考图纸尺寸要求轻缺陷 FPC 针孔 ab 允许数≤ W/3 ≤W 不计> W/3 >W 不允许轻缺陷 FPC 残铜 ab 允许数≤ W/3 ≤W 不计> W/3 >W 不允许轻缺陷 FPC 压痕/ 折痕形状允许数印痕、压痕不计锐角折痕不允许轻缺陷 元器