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十字型探针卡的制作方法
十字型探针卡的制作方法
一种十字型探针卡，包括：探针卡板，所述探针卡板用于承载所述功能测试端子；测试端子，所述测试端子分布设置在所述探针卡板的圆周边沿；探针引脚，所述探针引脚与所述待测器件之探针垫对应，呈十字型排探针卡板，所述探针卡板用于承载所述功能测试端子；测试端子，所述测试端子分布设置在所述探针卡板的圆周边沿；探针引脚，所述探针引脚与所述待测器件之探针垫对应，呈十字型排布，并设置在所述探针卡盘之中间部位。
[0008]可选地，所述分布设置在所述探针卡板之圆周边沿的测试端子的数量为48个。
[0009]可选地，所述呈十字型排布，并设置在所述探针卡板之中间部位的探针引脚的数量为24个。
[0010]可选地，所述探针引脚呈对称分布设置在所述探针卡板之中间部位。
[0011]可选地，所述探针引脚在任一方向上所述探针引脚呈并行交叉排列，所述探针引脚不相互交叉。
[0012]可选地，所述十字型探针卡可同时完成对所述测试单元的横向模组测试和纵向模组测试，且无需进行芯片角度旋转。
[0013]综上所述，本发明所述十字型探针卡可同时完成对所述测试单元的横向模组测试和纵向模组测试，且无需进行芯片角度旋转，极大的缩短了 WAT测试时间，提高了测试效率。同时，本发明所述十字型探针卡可保证所述探针引脚位于同一平面，避免探针引脚异面导致的WAT测试异常。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1所示为本发明十字型探针卡的结构示意图；
[0015]图2 Ca)所示为本发明十字型探针卡之探针引脚的俯视图；
[0016]图2 (b)所示为本发明十字型探针卡之探针引脚的仰视图；
[0017]图3所示为本发明十字型探针卡的测试结构示意图；
[0018]图4 (a)?图4 (b)所示为现有探针卡之结构示意图。
【具体实施方式】
[0019]为详细说明本发明创造的技术内容、构造特征、所达成目的及功效，下面将结合实施例并配合附图予以详细说明。
[0020]请参阅图1，图1所示为本发明十字型探针卡之结构示意图。所述十字型探针卡I包括:探针卡板(Prober Card Board, PCB) 11,所述探针卡板11用于承载所述功能测试端子；测试端子12，所述测试端子12分布设置在所述探针卡板11的圆周边沿；探针引脚13，所述探针引脚13与所述待测器件之探针垫(未图示)对应，呈十字型排布，并设置在所述探针卡盘11之中间部位。
[0021]作为【具体实施方式】，非限制性的列举，在本发明中，所述分布设置在所述探针卡板11之圆周边沿的测试端子12的数量为48个；所述呈十字型排布，并设置在所述探针卡板11之中间部位的探针引脚13的数量为24个。更具体地，所述探针引脚13呈对称分布设置在所述探针卡板11之中间部位。
[0022]请参阅图2 (a)、图2 (b),并结合参阅图1,图2 (a)所示为本发明十字型探针卡之探针引脚的俯视图。图2 (b)所示为本发明十字型探针卡之探针引脚的仰视图。为便于所述十字型探针卡I的制造，即所述探针引脚13在所述十字型探针卡I上的排列，优选地，在任一方向上所述探针引脚呈并行交叉排列，所述探针引脚13不相互交叉。
[0023]请参阅图3，并继续参阅图1，图3所示为本发明十字型探针卡的测试结构示意图。为了直观的